Rejillas de escalas de calibración de micrómetros de platina
Descripción del Producto
Los micrómetros de platina, las reglas de calibración y las rejillas se utilizan comúnmente en microscopía y otras aplicaciones de imagen para proporcionar escalas de referencia estándar para la medición y la calibración. Estos dispositivos suelen colocarse directamente sobre la platina del microscopio y se utilizan para caracterizar el aumento y las propiedades ópticas del sistema.
Un micrómetro de platina es un pequeño portaobjetos de vidrio que contiene una cuadrícula de líneas trazadas con precisión a una distancia conocida. Las cuadrículas se utilizan a menudo para calibrar el aumento de los microscopios y permitir mediciones precisas del tamaño y la distancia de las muestras.
Las reglas y rejillas de calibración son similares a los micrómetros de platina, ya que contienen una cuadrícula u otro patrón de líneas delineadas con precisión. Sin embargo, pueden estar hechas de otros materiales, como metal o plástico, y varían en tamaño y forma.
Estos dispositivos de calibración son fundamentales para medir con precisión las muestras bajo el microscopio. Al usar una escala de referencia conocida, los investigadores pueden garantizar que sus mediciones sean precisas y fiables. Se utilizan comúnmente en campos como la biología, la ciencia de los materiales y la electrónica para medir el tamaño, la forma y otras propiedades de las muestras.
Presentamos las rejillas de calibración para micrómetros de platina: una solución innovadora y fiable para garantizar mediciones precisas en una amplia variedad de industrias. Con una amplia gama de aplicaciones, este producto increíblemente versátil ofrece precisión y comodidad inigualables, lo que lo convierte en una herramienta esencial para profesionales en campos como la microscopía, la imagenología y la biología.
El elemento central del sistema es el micrómetro de platina, que proporciona puntos de referencia graduados para calibrar herramientas de medición como microscopios y cámaras. Estos micrómetros, duraderos y de alta calidad, están disponibles en una variedad de tamaños y estilos para satisfacer las necesidades de diferentes industrias, desde escalas simples de una sola línea hasta cuadrículas complejas con múltiples cruces y círculos. Todos los micrómetros están grabados con láser para mayor precisión y presentan un diseño de alto contraste para facilitar su uso.
Otra característica clave del sistema es la escala de calibración. Estas escalas, cuidadosamente diseñadas, proporcionan una referencia visual para las mediciones y son una herramienta esencial para calibrar equipos de medición como platinas de microscopio y platinas de traslación XY. Las escalas están fabricadas con materiales de alta calidad para garantizar su durabilidad y longevidad, y están disponibles en varios tamaños para satisfacer las necesidades de diferentes aplicaciones.
Finalmente, GRIDS proporciona un punto de referencia importante para mediciones de precisión. Estas cuadrículas vienen en una variedad de patrones, desde cuadrículas simples hasta cruces y círculos más complejos, lo que proporciona una referencia visual para mediciones precisas. Cada cuadrícula está diseñada para una mayor durabilidad, con un patrón grabado a láser de alto contraste para una precisión superior.
Una de las principales ventajas del sistema de rejillas de calibración para micrómetros de platina es su comodidad y versatilidad. Con una gama de micrómetros, escalas y rejillas, los usuarios pueden elegir la combinación perfecta para su aplicación específica. Ya sea en el laboratorio, en campo o en la fábrica, el sistema ofrece la precisión y fiabilidad que exigen los profesionales.
Si busca una solución confiable y de alta calidad para sus necesidades de medición, no busque más: las cuadrículas de calibración para micrómetros de platina son la solución. Con su excepcional precisión, durabilidad y practicidad, este sistema se convertirá en una herramienta valiosa en su arsenal profesional.




Presupuesto
Sustrato | B270 |
Tolerancia dimensional | -0,1 mm |
Tolerancia de espesor | ±0,05 mm |
Planitud de la superficie | 3(1) a 632,8 nm |
Calidad de la superficie | 40/20 |
Ancho de línea | 0,1 mm y 0,05 mm |
Bordes | Rectificado, 0,3 mm máx. Bisel de ancho completo. |
Apertura clara | 90% |
Paralelismo | <45” |
Revestimiento
| Cromo opaco de alta densidad óptica, pestañas <0,01 % a longitud de onda visible |
Área transparente, AR R < 0,35 % a longitud de onda visible |